产品概述
ITC57300 动态参数测试系统主机能搭配不同的测试头，对半导体器件如 MOSFET、IGBT、Diode 和其他 Bipolar 双极器件等进行非损毁性的测试（需另配额外偏置电源和订制个性板）。
主机包含了所需的各项测试仪与软件，用于测试与分析阻性／感性开关时间、开关损耗、栅电荷、Trr/Qrr 等项目。
各个测试头虽然设计不同，但都能简单快速地安置于主机上。各测试头虽为某个参数测试而设计，但其搭配的个性板能重新装配测试头，以配合不同类别的器件、封装型号和器件电路。
主要特点
技术参数
FAQ
价格与交期取决于配置。请告知被测器件、封装与需要测量的参数，我们的工程师会确认配置、价格与交期。
可以。请联系我们的销售工程师安排演示，或用您自己的器件做试测。
提供。安装、培训、校准与维修均由我们在国内的工程师完成。
